ワブテック・インスペクション・テクノロジーズ・ジャパン株式会社
72DL PLUS™超音波厚さ計は、高速で精密な厚さ測定が可能な、持ち運びしやすく使いやすい装置です。高速スキャン機能、先進のアルゴリズム、当社史上最少の厚さ測定能力を備え、製造用途で最も困難な極薄層の厚さ測定を確実に実施できます。
| 検査方法 | [超音波] 超音波厚さ計 |
|---|---|
| 検査対象 | [内部検査] |
特長
【主な特長の詳細】
- デジタルフィルターによって優れたSN比が実現し、ノイズの多い材料の厚さ（グラスファイバーなど）を正確に測定
- 多層測定機能では、6層までの多層の厚さを測定できます。
- 高周波数モデル：標準周波数モデルのすべての機能に加えて、最大125 MHzの探触子周波数で極薄材料の測定に対応
