極細線極小キズ検査装置LIST30F（固定式）※特許取得済み
LASER ILLUMINATE SURFACE TESTING
・レーザー光を被検査材表面に照射し、反射光の受光量変化にて合否判定します。
・カテーテルや注射針の極小キズを簡単・確実に自動で検査します。
※特許取得済み
装置概要
- レーザー投光４ｃｈ＋受信光１６ｃｈ仕様（センサーは固定配置）
- 対象サイズ φ０．０５～４．０ｍｍ
- 欠陥形状 主に点キズ Ｖノッチ 深さ１０マイクロミリ～ラインスピード
ＰＣ版：通常２０ｍ／分
ＦＰＧＡ版：通常１２０ｍ／分 - 表面に水・油などが付着している場合は検出不可。（表面に不純物が無き事）
検査原理概略
発振部からワークへレーザー光が30°で入射。
健全部では入射角と同じ30°で反射しますが、照射ポイントに欠陥があった場合、欠陥の寸法に応じて光量が変化。
健全部との変化を信号処理して合否判定を行います。
